Li M., Xi X.X., Hellstrom E., Davidson B.A., Chen K., Acharya N., Collantes Y., Kasaei L., Manichev V., Feldman L.C., Gustafsson T., Demir M., Bhattarai P.
Xi X.X., Tantawi S., Lee N., Kustom R.L., Tan T., Wolak M.A., Withanage W.K., Nassiri A., Welander P.B., Franzi M.
Ключевые слова: MgB2, films, HPCVD process, substrates, disks, Cu-based conductors, fabrication
Ключевые слова: MgB2, films large-area, HPCVD process, fabrication, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, upper critical fields
Larbalestier D.C., Li Q., Zhu Y., Mielke C.H., Gurevich A., Pogrebnyakov A.V., Xi X.X., Ferrando V., Wilke R.H., Eom C., Betts J.B., Voyles P.M., Chen K., Bark C.W., Dai W., Weng X., Redwing J., Rickel D.
Ключевые слова: MgB2, doping effect, films, HPCVD process, fabrication, resistivity, temperature dependence, critical temperature, microstructure, magnetic properties, upper critical fields, anisotropy, critical caracteristics, critical current density, angular dependence, Jc/B curves, experimental results
Lee S., Cho J., Lee H., Xi X.X., Lee J., Choi E., Jo Y., Zhuang C.G., Feng Q.R., Gan Z.Z., Wang Y.Z.
Ключевые слова: MgB2, films, PLD process, HPCVD process, comparison, substrate sapphire, critical caracteristics, Jc/B curves, microstructure, fabrication, experimental results
Lee C., Li Q., Xi X.X., Redwing J.M., Wang S.F., Soukiassian A., Schlom D.G., Lamborn D.R., Chen K., DeFrain R.
Ключевые слова: MgB2, films epitaxial, HPCVD process, Jc/B curves, temperature dependence, critical caracteristics, fabrication
Ключевые слова: MgB2, films thick, critical caracteristics, critical current density, thickness dependence, experimental results
Pogrebnyakov A.V., Xi X.X., Redwing J.M., Wilke R.H., Maertz E., Qi L., Soukiassian A., Schlom D.G., Findikoglu A.
Ключевые слова: MgB2, films, substrate flexible, mechanical properties, bending process, HPCVD process, fabrication, flexibility
Larbalestier D.C., Iwasa Y., Okada M., Sumption M.D., Penco R., Xi X.X.(xxx4@psu.edu)
Chen J., Li Q., Mielke C.H., Pogrebnyakov A.V., Xi X.X., Redwing J.M., Ferrando V., Wilke R.H., Orgiani P., Betts J.B.
Ferdeghini C., Kim J., Jewell M.C., Larbalestier D.C., Li Q., Braccini V., Gurevich A., Vaglio R., Hu Y.F., Cui Y., Xi X.X., Redwing J.M., Rowell J., Moeckly B., Ferrando V., Tarantini C., Marre D., Putti M., Haanappel E., Giencke J.E., Eom C.B., Pogrebnyakov A., Liu B.T., Singh R.K., Gandikota R., Wilkens B., Newman N.
Chen J., Li Q., Mielke C.H., Pogrebnyakov A.V., Xi X.X., Redwing J.M., Ferrando V., Giencke J.E., Orgiani P., Eom C., Feng Q., Betts J.B.
Li Q., Ye Z.X., Li Q.(qiangli@bnl.gov), Hu Y.F., Pogrebnyakov A.V., Cui Y., Xi X.X., Redwing J.M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.